FT150

XRF - Schichtdickenmessgerät
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Der hohe Durchsatz des FT150 ist wegen der polykapillaren Optik und des hochpräzisen modernen Vortex® Röntgenfluoreszenzdetektors möglich. Mit dem großen Probentisch, der breiten Öffnung und dem große Sichtfenster können Objekte unterschiedlicher Größen eingelegt werden. Die neu entwickelte Controller- Software ermöglicht optimierte, genaue Tests und Ergebnisse, die in einer Datenbank gespeichert werden und ganz bequem exportiert werden können.

Eine Vorschau der Proben und die Auswahl der Messstellen sind dank der neuen hochauflösenden Probenbetrachtungskamera übersichtlich. Kleine Extras, wie zum Beispiel die LED-Lichtquelle, bedeuten weniger Wartungsaufwand und eine 10 Mal längere Nutzungsdauer.

Eigenschaften:

Hochintensiver Röntgenstrahl – der Kern des Instruments ist ein neues polykapillares Optiksystem mit einem 30 μm-Strahl, der kleinste Halbleitermuster und Komponenten analysieren kann.

Vortex® SDD-Detektor – dieses Hochleistungsgerät verdoppelt den Durchsatz, gewährleistet reproduzierbare Messungen und steigert die Produktivität.

Breite Probentür – der FT150 lässt sich einfach be und entladen und besitzt zudem eine große Probenkammer, um unterschiedlichste Probenformen aufnehmen zu können.

HD-Kamera – die hohe Auflösung der Probenbetrachtungskamera – mit 16-fachem digitalem Zoom – stellt Halbleiterflächen klar und genau dar, sodass Verzerrungen minimiert werden und wiederholte Tests überflüssig sind.

Neue Controller-Software – Ermitteln Sie auf dem Bildschirm die besten Messstellen und starten Sie dann die Analyse.

Bestimmen Sie die Schichtdicken, von Aluminium (11) bis Uran (92).

Bilder

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FT 150 FT_150.pdf (762,3 KiB)

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