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TCM 2.142
| Technische Daten | |
|---|---|
| Display: | 8.0“ Touchbildschirm, 1280 x 800, 800 Nits Sonnenlichtlesbar Wechsel zwischen Finger- und Handschuhbedienung |
| Schutz: | IP 66, 1.8 m Fallhöhe |
| Gewicht: | 1,3 kg |
| Maße: | 227 mm (L) x 150 mm (W) x 40 mm (H) |
| Temperatur: | -20 °C to +50 °C |
| Versorgung: | Akkulaufzeit: 6h |
| Kamera: | Rückseitenkamera mit 8.0 MP, Frontkamera 2.0 MP |
| Speicher: | 128 GB SSD |
| Schnittstellen: | 19-pin LEMO, Thunderbolt 4, USB 3.2 Gen2 (type C), microSD Leser |
| Audio: | Audioeingang, - ausgang (Kombianschluss) |
| Dokumentation: | Speichern/Exportieren von Rohdaten, Screenshots, Berichte |
| Integrierte Hilfe: | Finde Informationen in jeder Einstellung und jedem Dialog für eine schnelle und sichere Bedienung |
| Sprachen: | Englisch, Deutsch, Spanisch, Chinesisch, Tschechisch, Italienisch, Französisch |
| Produkteigenschaften | TCM-Prüfkanal |
|---|---|
| Frequenzbereich | 4 Hz – 20 MHz einstellbar in 1 Hz Schritten |
| Mehrfrequenz | Bis zu 8 Frequenzen parallel Mix von zwei Frequenzen zur Reduzierung von Störsignalen |
| Filter | Tiefpass- und Hochpassfilter 1 Hz – 20.000 Hz |
| Gain | -20 dB bis +120 dB in 0,1 dB Schritten |
| Phase | 0 – 360° in 0,1° Schritten |
| X- und Y-Gain | 0 – 60 dB in 0,1 dB Schritten |
| X/Y Offset | -50/+50 in 5 % Schritten |
| Sondenerkennung | Automatische Einstellung des Eingangsverstärkers und maximalen Ausgangsstromes |
| Vorverstärker | -18, -12, -6, 0, 6, 12, 18, 24, 30, 36 dB |
| Max. Ausgangsstrom | 400 mA (peak), 10 V peak-peak |
| Datenauflösung | 32 bit |
| Samplingrate | Bis zu 40.000 Werte/s |
| Nachleuchten | 0,1 – 60 Sekunden, Unendlich, Rot-Sync |
| Diagramme | x/y, t, x/y + t, C-Scan |
| Schwellen | Linie, Kreis, Box, Sektor |
| Freeze-Modus | Signal einfrierbar: Parameter wie Gain Phase weiterhin veränderbar |
| Dokumentation | Bericht kann angepasst und als PDF gespeichert werden Screenshots als PNG aufnehmen Aufzeichnung von Rohdaten und nachträgliches Laden für weitere Anpassungen Automatische Dokumentation aller relevanten Wirbelstromparameter |
| Arraytechnologie | Bis zu 512 Sondenelementen |
| Unterstützte Sonden | Rotierköpfe und Sonden (5 – 24 V) Alle transformatorischen Sonden wie Absolut-, Differenz- und weitere parametrische Sonden ähnlich den DEFECTOMETER-Sonden Brückensonden (Einstellbarer Widerstand 5, 25, 50, 100, 200 Ω) Sonden von anderen Herstellern funktionieren mit dem TCM |
| Leitfähigkeitsmessung Frequenz | 60, 120, 240, 480 kHz |
| Leitfähigkeitsmessung Genauigkeit |
+/- 0,7 % des Messwertes bei 60 kHz, 14 mm Sonde |
| Leitfähigkeitsmessung Auflösung | +/- 0,1 % des Messwertes |
| Leitfähigkeitsmessung Messbereich |
0,5 bis 65 MS/m (1-112 % IACS) |
| Assistenten | Auto-Set Assistent für - Absolutsonden und die Lift-Off Einstellung - Einstellung von Filtern für die Nutzung von Rotiersonden |
| Erfüllte Normen | DIN EN ISO 15548 |
Product description
Mobile testing often requires the use of different testing systems. With its new TCM platform, FOERSTER has now combined its established eddy current testing products. A single device integrates deep-penetrating low-frequency (LF) testing with DEFECTOSCOP for residual wall thickness measurement and high-frequency (HF) testing with DEFECTOMETER for detecting even the smallest cracks.
The TCM platform also supports conductivity measurements of non-ferromagnetic materials. You can select individual applications using the intuitive touch interface. Automatic probe detection helps you choose the optimal test and measurement parameters to achieve the best results.
The following software modules are available both individually and in combination!!
Available software modules:
DEFECTOSCOP:
- Universal eddy current testing for rotating parts and HF and LF applications:
Solve a wide variety of inspection tasks using your own sensors or sensors customized by FOERSTER
- C-Scan:
The data from the hand-rotated probe can be displayed in a high-resolution C-scan
- Multi-frequency testing with up to 8 frequencies:
Test at different penetration depths or optimized interference suppression through frequency mixing
- Post-processing of frozen eddy current data:
Freeze recorded signals and optimize parameters such as gain, phase and filters without repeating the inspection
- Flexible Probe Selection:
Connect a wide variety of sensors, such as parametric, transformational, or bridge probes
SIGMATEST:
- Wide frequency range:
Allows for the measurement of different material thicknesses
- Shielded probes:
These are used to prevent edge effects
- Reduced wear:
Specially designed probes with durable titanium protection ensure long service life
- Easy to use:
- Large-scale testing:
Testing with up to 512 probe elements in parallel
- Identification of gaps:
Spatially Resolved Eddy Current Data for Position-Accurate Fault Detection
- 100% Documentation:
Eddy current images can be saved as PNG files